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半导体快速温变检测设备是各式各样的产品在设计强度极限下，运用人工模拟环境温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时，产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力，使产品中产生热应力和应变，透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵]，以避免该产品批量于使用过程中，受到环境应力的考验时而导致失效，造成不必要的重大损失，对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果，另外应力筛选本身是一种制程阶段的过程，而不是一种可靠度试验，所以应力筛选是100%对产品进行的程序。
半导体快速温变检测设备的技术参数：
快速温度试验箱型号 | LQ-KS-80 | LQ-KS-150 | LQ-KS-225 | LQ-KS-408 | LQ-KS-800 | ||
标称内容积（升） | 80 | 150 | 225 | 408 | 800 | ||
性能 | 温度范围 | -70℃~+150℃ | |||||
温度波动度 | 1℃ | ||||||
温度偏差 | ±2.0℃ | ||||||
湿度范围 | 20~98%RH | ||||||
湿度偏差 | ±3.0%RH(>75%RH),±5.0%RH（≤75%RH） | ||||||
温度变化速率 | 1/3/5/8/10/15min | ||||||
温度变化速率范围 | -55℃~+70℃ | ||||||
工作室尺寸（cm）W*D*H | 40*40*50 | 50*50*60 | 75*60*50 | 60*80*85 | 80*10*100 | ||
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果。
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求。
多种可选功能（测试孔、记录仪、净水系统等）保证了用户多种功能和测试的需要。
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