连接器冷热冲击试验箱适用于电子电器、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工厂BGA、PCB基板、半导体陶瓷及高分子材料。

连接器冷热冲击试验箱分为分为高温箱常温箱、低温箱三部分,断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物通过高温-常温-低温循环移动，以达到冷热冲击测试目的。

符合标准：

GB 10592-89高、低温试验箱技术条件

GB/T10589- 1989低温试验箱技术条件

GB/T 2423.2-2001高温

GB/T 2423.1-2001低温

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2- 1:2007)低温试验方法Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法Bb

GJB150.4-1986低温试验

GJB150.3-1986高温试验

JIS C60068-2-2-1995试验B:干热

JIS C60068-2-1-1995试验A:低

JIS C60068-2-1-1995试验A:低温

JESD22-A103-C-2004高温储存试验

JESD22-A119-2004低温储存试验

JESD22-A119-2004低温储存试验

MIL-STD-810F-501.4高温

MIL-STD883C方法1004.2

MIL-STD810方法507.2 程序3

MIL-STD-810F-502.4低温

IEC68-2-01_试验方法A冷

GB/T2423.1-2001低温试验方法;

GB/T2423.22- 1989温度变化试验N;

标GJB150.3-86;

标GJB150.4- 86;

标GJB150.5- -86;

GJB150.5-86温度神击试验;

GJB360.7-87温度冲击试验;

GJB367.2-87 405温度冲击试验;

SJ/T101 87-91Y73系列温度变化试验箱一-箱式;

SJ/T101 86-91Y73系列温度变化试验箱一二箱式;

满足标准IEC68-2-14试验方法N温度变化;

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

GB/T 2423.22-2002温度变化;

QC/T17-92汽车零部件耐候性试验-般规则;

EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

IEC68-2-02_试验方法B_ _干热

IEC68-2-01_试验方法A冷

IEC68-2-02_试验方法B _干热